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差熱分析儀

簡(jiǎn)要描述:差熱分析儀是我公司研制的熱分析儀系列產(chǎn)品主要面向工業(yè)用戶、科研與教學(xué),廣泛應(yīng)用于各類材料與化學(xué)領(lǐng)域的新品,工藝優(yōu)化與質(zhì)檢質(zhì)控等。主要測(cè)量與熱量有關(guān)的物理和化學(xué)的變化,如物質(zhì)的熔點(diǎn)熔化熱、結(jié)晶點(diǎn)結(jié)晶熱、相變反應(yīng)熱、熱穩(wěn)定性(氧化誘導(dǎo)期)、玻璃化轉(zhuǎn)變溫度等。

  • 產(chǎn)品型號(hào):DZ3332
  • 廠商性質(zhì):其他
  • 更新時(shí)間:2024-05-13
  • 訪  問  量:644

詳細(xì)介紹

產(chǎn)地國(guó)產(chǎn)加工定制

 研制的熱分析儀系列產(chǎn)品主要面向工業(yè)用戶、科研與教學(xué),廣泛應(yīng)用于各類材料與化學(xué)領(lǐng)域的新品,工藝優(yōu)化與質(zhì)檢質(zhì)控等。主要測(cè)量與熱量有關(guān)的物理和化學(xué)的變化,如物質(zhì)的熔點(diǎn)熔化熱、結(jié)晶點(diǎn)結(jié)晶熱、相變反應(yīng)熱、熱穩(wěn)定性(氧化誘導(dǎo)期)、玻璃化轉(zhuǎn)變溫度等。

DZ3332 高溫差熱分析儀技術(shù)參數(shù):
1. 溫度范圍: 室溫~1350℃
2. 量程范圍: 0~±2000μV
3. DTA精度: ±0.1μV
4. 升溫速率: 1~80℃/min
5. 溫度分辨率: 0.1℃
6. 溫度準(zhǔn)確度: ±0.1℃
7. 溫度重復(fù)性: ±0.1℃
8. 溫度控制: 升溫:程序控制 可根據(jù)需要進(jìn)行參數(shù)的調(diào)整
降溫:風(fēng)冷 程序控制
恒溫:程序控制 恒溫時(shí)間任意設(shè)定
9. 爐體結(jié)構(gòu): 爐體采用上開蓋式結(jié)構(gòu),代替了傳統(tǒng)的升降爐體,精度高,易于操作
10.氣氛控制: 內(nèi)部程序自動(dòng)切換
11.數(shù)據(jù)接口: 標(biāo)準(zhǔn)USB接口 配套數(shù)據(jù)線和操作軟件
12.顯示方式: 24bit色,7寸 LCD觸摸屏顯示
13.參數(shù)標(biāo)準(zhǔn): 配有標(biāo)準(zhǔn)物,帶有一鍵校準(zhǔn)功能,用戶可自行對(duì)溫度進(jìn)行校正
14.基線調(diào)整: 用戶可通過基線的斜率和截距來調(diào)整基線
15.工作電源: AC 220V 50Hz

 

  高溫差熱分析儀 差 

 

 

 

 

產(chǎn)品名稱:堵漏材料實(shí)驗(yàn)裝置 堵漏材料實(shí)驗(yàn)裝置
產(chǎn)品型號(hào):TC-QD-2A 

堵漏材料實(shí)驗(yàn)裝置 堵漏材料實(shí)驗(yàn)裝置 型號(hào):TC-QD-2A 
概述: 
TC-QD-2A型堵漏儀按照美國(guó)(API)推薦程序設(shè)計(jì),在TC-QD-2型堵漏儀的基礎(chǔ)上,限壓力由8Mpa 
提高至12Mpa,內(nèi)部除了采用鋼球模擬地層裂縫外,增加了可剖縱向隙板+可剖橫向隙板模擬。 
真正意義上實(shí)現(xiàn)了模擬測(cè)定不同狀態(tài)下的漏失參數(shù)。保留了堵漏壓力反排裝置,可以檢測(cè)封 
堵成功后反向破壞封堵所需的力,以便研究封堵材料的結(jié)構(gòu)強(qiáng)度,為堵漏材料的選擇提供更 
可靠依據(jù)。另外在筒體上還加上了排漿口,使實(shí)驗(yàn)做完后能夠把漿輕而易舉的排除。 
主要技術(shù)參數(shù): 
1、料筒容量:4000ml                                         
2、氣源:氮?dú)?nbsp;                                              
3、TC-QD-2限工作壓力:12Mpa                                  
4、TC-QD-2A限工作壓力:15Mpa                                 
5、TC-QD-2隙板規(guī)格:1~6號(hào)(其中6號(hào)是全徑環(huán)),                
TC-QD-2A隙板規(guī)格1~7號(hào)(可剖縱向隙板+可剖橫向隙板),14件/臺(tái)。 
6、彈子:Φ14.3、φ4.39                                      
7、測(cè)堵深度:0~80mm,隙板深度50mm.                  
 

 

產(chǎn)品名稱:瞬態(tài)平面熱源法快速導(dǎo)熱儀 導(dǎo)熱系數(shù)測(cè)試儀
產(chǎn)品型號(hào):DZDR-S 

瞬態(tài)平面熱源法快速導(dǎo)熱儀 導(dǎo)熱系數(shù)測(cè)試儀 型號(hào):DZDR-S

產(chǎn)品介紹:  
基于瞬態(tài)平面熱源法技術(shù)(TPS)的導(dǎo)熱系數(shù)測(cè)試儀。該產(chǎn)品,測(cè)試性能穩(wěn)定,數(shù)據(jù)處理分析能力強(qiáng),可用于各種不同類型材料的熱傳導(dǎo)性能的測(cè)量。 
測(cè)量對(duì)象:  
材料類型:金屬、陶瓷、合金、礦石、聚合物、復(fù)合材料、紙、織物、泡沫塑料(表面平整的隔熱材料、板材),聚氨酯、酚醛、尿醛、礦物棉(玻璃棉、巖棉、礦棉)、水泥墻體、玻璃增強(qiáng)復(fù)合板CRC、水泥聚苯板、夾心混凝土、玻璃鋼面板復(fù)合板材、紙蜂窩板等。 
技術(shù)參數(shù):     
1.測(cè)試范圍: 0.005—300W/(m*K) 
2.測(cè)量溫度范圍: 室溫—130℃ 
3.探頭直徑: 一號(hào)探頭7.5mm;二號(hào)探頭15mm 
4.精度: ±3% 
5.重復(fù)性誤差: ≤3% 
6.測(cè)量時(shí)間: 5~160秒 
7.電源: AC 220V 
8.整機(jī)功率: ﹤500w 
9.樣品溫升:﹤15℃ 
10.測(cè)試樣品功率P: 一號(hào)探頭功率0;二號(hào)探頭功率0 
11.樣品規(guī)格:一號(hào)探頭所測(cè)單個(gè)樣品(15*15*3.75mm);二號(hào)探頭所測(cè)單個(gè)樣品(30*30*7.5mm) 
注:1號(hào)探頭所測(cè)的是厚度較薄的低導(dǎo)材料。如所測(cè)樣品表面光滑平整且具有粘性可將樣品進(jìn)行疊加 
儀器特點(diǎn):  
1.測(cè)試范圍廣泛,測(cè)試性能穩(wěn)定,在國(guó)內(nèi)同類儀器中,處于水平; 
2.直接測(cè)量,測(cè)試時(shí)間5-160s左右可設(shè)置,能快速準(zhǔn)確的測(cè)出導(dǎo)熱系數(shù),節(jié)約了大量的時(shí)間; 
3.不會(huì)和靜態(tài)法一樣受到接觸熱阻的影響; 
4.無須特別的樣品制備,對(duì)樣品形狀并無特殊要求,塊狀固體只需相對(duì)平滑的樣品表面并且滿足長(zhǎng)寬至少為探頭直徑的兩倍即可; 
5.對(duì)樣品實(shí)行無損檢測(cè),意味著樣品可以重復(fù)使用; 
6.探頭采用雙螺旋線的結(jié)構(gòu)進(jìn)行設(shè)計(jì),結(jié)合專屬數(shù)學(xué)模型,利用核心算法對(duì)探頭上采集的數(shù)據(jù)進(jìn)行分析計(jì)算; 
7.樣品臺(tái)的結(jié)構(gòu)設(shè)計(jì)巧妙,操作方便,適合放置不同厚度的樣品,同時(shí)簡(jiǎn)潔美觀; 
8.探頭上的數(shù)據(jù)采集使用了進(jìn)口的數(shù)據(jù)采集芯片,該芯片的高分辨率,能使測(cè)試結(jié)果更加準(zhǔn)確可靠; 
9.主機(jī)的控制系統(tǒng)使用了ARM微處理器,運(yùn)算速度比傳統(tǒng)的微處理器快,提高了系統(tǒng)的分析處理能力,計(jì)算結(jié)果更加精確;  
10.儀器可用于塊狀固體、膏狀固體、顆粒狀固體、膠體、液體、粉末、涂層、薄膜、保溫材料等熱物性參數(shù)的測(cè)定; 
11.智能化的人機(jī)界面,彩色液晶屏顯示,觸摸屏控制,操作方便簡(jiǎn)潔; 
12.強(qiáng)大的數(shù)據(jù)處理能力。高度自動(dòng)化的計(jì)算機(jī)數(shù)據(jù)通訊和報(bào)告處理系統(tǒng) 

參照標(biāo)準(zhǔn): 
ISO22007-22008

 

 

產(chǎn)品名稱:手持快檢通箱
產(chǎn)品型號(hào):6600

手持檢通箱型號(hào):6600

操作簡(jiǎn)單:輕巧、手持式的*設(shè)計(jì),特別于快速、可靠的現(xiàn)場(chǎng)測(cè)試。 
現(xiàn)代傳輸:儀器內(nèi)部可存儲(chǔ)數(shù)萬條測(cè)試數(shù)據(jù)和存儲(chǔ)原始測(cè)試圖像,可通過藍(lán)牙等無線傳輸模塊,數(shù)據(jù)傳輸過程簡(jiǎn)單,可快速將檢測(cè)結(jié)果進(jìn)行格式轉(zhuǎn)換或直接打印,上傳 

主機(jī)包含分光檢測(cè)模塊、膠體金檢測(cè)模塊、干式試紙檢測(cè)模塊、無線通訊模塊等。 
偵測(cè)系統(tǒng)(檢測(cè)器):百萬像素CMOS Sensor/陣列CMOS Sensor 
灰階動(dòng)態(tài)范圍(數(shù)據(jù)轉(zhuǎn)換率):3*8bit 
精密度(相對(duì)標(biāo)準(zhǔn)偏差):CV值≤1 %(T/C比為0.5,同一條測(cè)試條20次C線積分值與T線積分值的統(tǒng)計(jì)數(shù)據(jù)) 
測(cè)試模式:T/C峰面積值和掃描圖

 

 

產(chǎn)品名稱:147型激光功率計(jì)
產(chǎn)品型號(hào):147型

147型激光功率計(jì)
【簡(jiǎn)單介紹】147型激光功率計(jì)可以對(duì)波長(zhǎng)在400 ~ 1100nm(硅光譜)范圍里的氣體激光器、固體激光器、半導(dǎo)體激光器和染料激光器等多種激光輸出功率進(jìn)行測(cè)量。選用了硅光電探測(cè)器,儀器可以感受到1nW的光功率變化。
 【詳細(xì)說明】 
147型激光功率技術(shù)參數(shù) 
顯示    雙性3-1/2位數(shù)字顯示 
光譜響應(yīng)范圍    400 ~ 1100nm 
探測(cè)器光敏面尺寸    9.8×9.8mm 
大激光功率密度    500W/cm2(帶衰減器) 
147型激光功測(cè)量范圍     不帶衰減器 2mW、20mW、200mW、2mW、20mW 
      帶衰減器 2mW、20mW、200mW、2W、 20W 
147型激光功小分辨率     1nW 
測(cè)量不確定度     5%±1 字 
電源     AC 220V±10%, 50Hz 
功耗     8W 
激光功率計(jì)  

型號(hào)探測(cè)器口徑(mm)光譜范圍(μm)量程大激光功率密度冷卻方式顯示方式特點(diǎn)
146Φ200.4~1.1 200~1000W≥10kW/cm2水冷3 1/2 LED 大功率激光測(cè)量
Φ30
147Φ202μW~20mW
2mW~20W
≥500kW/cm2 寬量程中小功率測(cè)量?jī)x器(10檔選擇)
148Φ20(大功率)2~200W≥10kW/cm2 大、中小功率綜合測(cè)量設(shè)計(jì)在同一探測(cè)器上
Φ30(中小功率)2~200mW
 M93Φ10.520~200mW≥50kW/cm2 顯示器與探測(cè)器均小型化的激光小功率計(jì)

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