數(shù)字式四探針測試儀 　型號：TC-SZT-2000
、儀是根據(jù)體材料的電阻率和半導(dǎo)體擴散層的薄層電阻進行測量，可以從10-6--105Ω—cm全量程范圍檢測硅的片狀、棒狀材料的電阻、薄層電阻，是硅材料質(zhì)量監(jiān)測的必需儀器。
儀器為臺式結(jié)構(gòu)，分為電氣箱、測試架兩大部分，用戶可以根據(jù)測試需要安放在一般工作臺或者工作臺上，測試架由探頭及壓力傳動機構(gòu)、樣品架組成，耐磨和使用壽命長的特點。探頭內(nèi)設(shè)有彈簧壓力裝置，壓力從0—2Kg連續(xù)可調(diào)，測試架設(shè)有手動和電動兩種裝置供用戶選購。
儀器電氣箱主要由高靈敏的直流數(shù)字電壓表和高穩(wěn)定的恒流源組成，測量結(jié)果由數(shù)字直接顯示，儀器有自校量程，可以方便地對儀器的電氣性能進行校驗。
儀器具有測量精度高、靈敏度高、穩(wěn)定性好、測量范圍廣、結(jié)構(gòu)緊湊、使用方便等特點，儀器于半導(dǎo)體材料廠、器件廠、科學(xué)研究部門、高等院校，對半導(dǎo)體材料的電阻性能測試及工藝檢測。
儀器主要技術(shù)指標：
1．  范圍：電阻率10-4—103Ω—cm，可擴展至105Ω—cm，分辯率為10-6Ω—cm
         方塊電阻10-3—103Ω /□
         電阻10-6—105Ω
2．  可測半導(dǎo)體尺寸：直徑Φ15—150mm
3．  測量方式：軸向、斷面均可（手動測試架）
4．  數(shù)字電壓表（1）量程0.2mV、2mV、20mV、200mV、2V 
  （2）測量誤差 0.2mV檔±（0.3%讀數(shù)+8字）
              2 mV檔以上±（0.3%讀數(shù)+2字）
  （3）輸入阻抗0.2mV、2mV擋105Ω
              20mV檔以上>108Ω
  （4）顯示3 1/2位數(shù)字顯示，0—1999
具有性和過載自動顯示，小數(shù)點、單位自動顯示
5．  恒流源：（1）電流輸出：直流電流0—100mA連續(xù)可調(diào)，由交流電源供給
   （2）量程：10μA、100μA、1mA、10mA、100mA 五檔
   （3）電流誤差：±（0.3%讀數(shù)+2字）
6．四探針測試探頭  （1）探頭間距：1mm   （2）探針機械游率：±0.3% 
                   （3） 探針：Φ0.5mm    （4）壓力：可調(diào)
  7. 測試架：
  （1）手動測試架：探頭上升及下降由手動操作，可以用作軸向和斷面的單晶棒和硅片測試。
  （2）電動測試架：探頭的上升和下降由電動操作，設(shè)有自動控制器控制，探頭上升時間1S—99S可調(diào)，探頭下降時間1S—99S可調(diào)，壓力恒定可調(diào)（由砝碼來設(shè)定）同時設(shè)有腳踏控制裝置由腳踏開關(guān)控制探頭上下運動。
   8.電流：220V±10% 50HZ或60HZ：功率消耗<35W
9．    外形尺寸：電氣箱130×110×400mm

數(shù)字式四探針測試儀 

產(chǎn)品名稱：手持多功能數(shù)字核輻射儀/便攜式射線檢測儀/輻射報警儀/射線檢測儀（可以連接電腦） 產(chǎn)品型號：910型 900+的升級

910型多功能數(shù)字核輻射儀

USB電腦連接
自動存儲記錄
數(shù)據(jù)分析軟件
αβγ射線選擇開關(guān)
數(shù)值實時遠傳電腦顯示
大屏幕高清晰LCD 顯示

簡述

910型多功能數(shù)字核輻射儀是900型的升級換代產(chǎn)品。2011年，德國柯雷技術(shù)有限公司對多功能數(shù)字核輻射儀進行重新設(shè)計，使其操作更加簡單，可靠性更高。按鍵簡化成了8個，使用戶操作更加簡化。內(nèi)部電路進行了優(yōu)化，使之更加可靠；增加的新的存儲器，能存儲更多的數(shù)據(jù)。910型多功能數(shù)字核輻射儀是9.11襲擊以后，為防范襲擊而設(shè)計的。它功能強大，充分考慮到在惡劣的環(huán)境下使用，抗高強度沖擊，耐高溫和低溫，提供可靠和精確的測量數(shù)據(jù)。新?lián)Q代的910型多功能數(shù)字核輻射儀體積小，重量輕，高強度機身，十分堅固?？蓹z測α、β、γ和Χ射線，采用美國標準局制造的核輻射傳感器，此傳感器是目前市場上性能的小型輻射傳感器。

應(yīng)用
 
910型多功能數(shù)字核輻射儀，可廣泛用在制藥廠，實驗室，發(fā)電廠，采石場，緊急狀況營救站，金屬處理廠，油田和供油管道裝備，環(huán)境保護，局等部門。

用于：
 
檢查地下水，鐳污染 
檢查地下鉆管和設(shè)備的放射性 
檢查周圍環(huán)境的氡輻射銫污染 
檢查石材等建筑材料的放射性 
檢查瓷器餐具玻璃杯等的放射性 
檢查局部的輻射泄露和核輻射污染 
檢查有核輻射危險的填埋地和垃圾場 
檢查個人的貴重財產(chǎn)和珠寶的有害輻射 
檢測從醫(yī)用到工業(yè)的X射線儀的X射線強度 

產(chǎn)品特點
 
帶射線選擇開關(guān) 
Z大值保持功能 
顯示平均時間可調(diào) 
自動存儲采樣數(shù)據(jù) 
可進行輻射計量值累計 
只需要每5年進行一次校準 
小型化抗沖擊設(shè)計，攜帶方便 
符合人機工程學(xué)原理，手感舒適 
USB電腦接口，功能豐富的分析軟件 
數(shù)據(jù)可數(shù)值實時遠傳到電腦顯示和分析 
大easy-to-read 屏幕的高清晰LCD 顯示

技術(shù)參數(shù)
 

產(chǎn)品名稱：差熱分析儀  產(chǎn)品型號：DZ-3320A

 差熱分析儀  型號：DZ-3320A

產(chǎn)品介紹: 
       差熱分析儀 是在程序控制溫度下，測量物質(zhì)與參比物之間的溫度差與溫度關(guān)系的一種技術(shù)。差熱分析曲線是描述樣品與參比物之間的溫度(△T)隨溫度或時間的變化關(guān)系。在DTA試驗中，樣品溫度的變化是由于相轉(zhuǎn)變或反應(yīng)的吸熱或放熱效應(yīng)引起的。如：相轉(zhuǎn)變，熔化，結(jié)晶結(jié)構(gòu)的轉(zhuǎn)變，沸騰，升華，蒸發(fā)，脫氫反應(yīng)，斷裂或分解反應(yīng)，氧化或還原反應(yīng)，晶格結(jié)構(gòu)的破壞和其他化學(xué)反應(yīng)。 

差熱分析儀 技術(shù)參數(shù):  
1. 溫度范圍: 室溫~1150℃   
2. 量程范圍: 0～±2000μV    
3. DTA精度: ±0.1μV     
4. 升溫速率: 1～80℃/min   
5. 溫度分辨率: 0.1℃   
6. 溫度準確度: ±0.1℃   
7. 溫度重復(fù)性: ±0.1℃    
8. 溫度控制: 升溫：程序控制  可根據(jù)需要進行參數(shù)的調(diào)整 
             降溫：風(fēng)冷  程序控制   
             恒溫：程序控制  恒溫時間任意設(shè)定 
9. 爐體結(jié)構(gòu): 爐體采用上開蓋式結(jié)構(gòu)，代替了傳統(tǒng)的升降爐體，精度高，易于操作 
10.氣氛控制: 內(nèi)部程序自動切換 
11.數(shù)據(jù)接口: 標準USB接口  配套數(shù)據(jù)線和操作軟件 
12.顯示方式: 24bit色 7寸 LCD觸摸屏顯示 
13.參數(shù)標準: 配有標準物，帶有一鍵校準功能，用戶可自行對溫度進行校正 
14.基線調(diào)整: 用戶可通過基線的斜率和截距來調(diào)整基線 
15.工作電源: AC 220V  50Hz