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雙電測四探針測試儀

簡要描述:雙電測四探針測試儀 四探針測試儀  型號:TC-RTS-5
采用了四探針雙電測組合(亦稱雙位組合)測量新技術(shù),將范德堡測量方法推廣應(yīng)用到直線四探針上,利用電流探針、電壓探針的變換,在計(jì)算機(jī)控制下進(jìn)行兩次電測量,能自動消除樣品幾何尺寸、邊界效應(yīng)以及探針不等距和機(jī)械游移等因素對測量結(jié)果的影響。

  • 產(chǎn)品型號:TC-RTS-5
  • 廠商性質(zhì):其他
  • 更新時(shí)間:2024-05-04
  • 訪  問  量:475

詳細(xì)介紹

產(chǎn)地國產(chǎn)加工定制

 雙電測四探針測試儀 四探針測試儀型號:TC-RTS-5
TC-RT 用了四探針雙電測組合(亦稱雙位組合)測量新技術(shù),將范德堡測量方法推廣應(yīng)用到直線四探針上,利用電流探針、電壓探針的變換,在計(jì)算機(jī)控制下進(jìn)行兩次電測量,能自動消除樣品幾何尺寸、邊界效應(yīng)以及探針不等距和機(jī)械游移等因素對測量結(jié)果的影響。因而每次測量不必知道探針間距、樣品尺寸及探針在樣品表面上的位置。由于每次測量都是對幾何因素的影響進(jìn)行動態(tài)的自動修正,因此顯著降低了幾何因素影響,從而提高了測量結(jié)果的準(zhǔn)確度。所有這些,用目前大量使用的常規(guī)四探針測量方法所的儀器是無法實(shí)現(xiàn)的。

 系統(tǒng)是一個(gè)運(yùn)行在計(jì)算機(jī)上擁有友好測試界面的用戶程序,通過此測試程序輔助使用戶簡便地進(jìn)行各項(xiàng)測試及獲得測試數(shù)據(jù)并對測試數(shù)據(jù)進(jìn)行統(tǒng)計(jì)分析。
    測試程序控制四探針測試儀進(jìn)行測量并采集測試數(shù)據(jù),把采集到的數(shù)據(jù)在計(jì)算機(jī)中加以分析,然后把測試數(shù)據(jù)以表格,圖形直觀地記錄、顯示出來。用戶可對采集到的數(shù)據(jù)在電腦中保存或者打印以備日后參考和查看,還可以把采集到的數(shù)據(jù)輸出到Excel中,讓用戶對數(shù)據(jù)進(jìn)行各種數(shù)據(jù)分析
技術(shù)參數(shù):
 測量范圍 電阻率:0.001~200Ω.cm(可擴(kuò)展);  
 方塊電阻:0.01~2000Ω/□(可擴(kuò)展); 
 電導(dǎo)率:0.005~1000 s/cm; 
 電阻:0.001~200Ω.cm; 
可測晶片厚度 ≤3mm

雙電測四探針測試儀 四探針測試儀
可測晶片直徑 140mmX150mm(配S-2A型測試臺);
 200mmX200mm(配S-2B型測試臺);
 400mmX500mm(配S-2C型測試臺);
恒流源 電流量程分為0.1mA、1mA、10mA、100mA四檔,各檔電流連續(xù)可調(diào)
數(shù)字電壓表 量程及表示形式:000.00~199.99mV;    
 分辨力:10μV;
 輸入阻抗:>1000MΩ;
 精度:±0.1% ;
 顯示:四位半紅色發(fā)光管數(shù)字顯示;性、量程自動顯示;
四探針探頭基本指標(biāo) 間距:1±0.01mm;
 針間緣電阻:≥1000MΩ; 
 機(jī)械游移率:≤0.3%;
 探針:碳化鎢或高速鋼Ф0.5mm;
 探針壓力:5~16 牛頓(總力);
四探針探頭應(yīng)用參數(shù) (見探頭附帶的合格證)
模擬電阻測量相對誤差
( 按JJG508-87進(jìn)行) 0.1Ω、1Ω、10Ω、100Ω小于等于0.3%±1字
整機(jī)測量Z大相對誤差(用硅標(biāo)樣片:0.01-180Ω.cm測試)≤±4%
整機(jī)測量標(biāo)準(zhǔn)不確定度 ≤4%
計(jì)算機(jī)通訊接口 并口
標(biāo)準(zhǔn)使用環(huán)境 溫度:23±2℃;
 相對濕度:≤65%;
 無高頻干擾;
 無強(qiáng)光直射

 

 

 

 

產(chǎn)品名稱:數(shù)字式四探針測試儀
產(chǎn)品型號: SZT-I 停產(chǎn) 

數(shù)字式四探針測試儀型號:SZT-I
SZT-I型數(shù)字式四探針測試儀是運(yùn)用四探針測量原理 的多用途綜合測量裝置。它可以測量片狀、快狀半導(dǎo)體材料徑向和軸向電阻率,測量片狀半導(dǎo)體材料的電阻率和擴(kuò)散層的薄層電阻(方塊電阻),換上特制的四探針測試夾,還可以對金屬導(dǎo)體的低中值電阻進(jìn)行測量。此外,探針經(jīng)過特殊加工后,還可以測量薄膜材料電阻率。廣泛于半導(dǎo)體材料、器件廠、高等院?;瘜W(xué)物理系、科研單位,對半導(dǎo)體材料的電阻性能測試。 
本儀器測試探頭采用寶石導(dǎo)向軸套和高耐磨碳化鎢探針,定位準(zhǔn)確,游移率小,使用壽命長。 
技術(shù)參數(shù): 
1. 測量范圍: 
電阻率:10的-4次方~10的3 次方Ω-cm 
方塊電阻:10的-3次方 ~10的4 次方Ω/□ 
電阻:10的-6次方 ~10的5 次方Ω 
導(dǎo)電類型鑒別:電阻率范圍 10的-4 次方~10 的3次方Ω—cm 
2. 可測半導(dǎo)體材料尺寸 
直徑:φ15~100 mm 
長度:≤400mm 
3. 測量方法: 
軸向、斷面均可 
4. 顯示方式:31/2,數(shù)顯,性、過載自動顯示,小數(shù)點(diǎn)、單位自動顯示。 
5. 恒流源: 
(1) 電流輸出:直流電流0~100 mA連續(xù)可調(diào)。 
(2) 量程:10、100μA、1、10、100mA 
(3) 誤差:±0.5%讀數(shù)±2個(gè)字 
6.四探針測試探頭 
(1) 探針間距:1mm 
(2) 材料:碳化鎢.探針機(jī)械游移率:±1.0% 
7.電源:220±10% 50Hz或60Hz 功耗:<35W 
 

 

 

 

產(chǎn)品名稱:橡膠硬度計(jì)
產(chǎn)品型號:XHS-A

橡膠硬度計(jì) 型號:XHS-A

測量橡膠、塑膠材料硬度的試驗(yàn)儀器。 
執(zhí)行標(biāo)準(zhǔn):GB/T531、JJG304、適合GB/T6031試驗(yàn)方法的有關(guān)規(guī)定。 
硬度計(jì)表頭可安裝在定負(fù)荷測定架上,在實(shí)驗(yàn)室內(nèi)對橡膠、塑料材料標(biāo)準(zhǔn)試片測定其標(biāo)準(zhǔn)硬度,也可手持硬度計(jì)表頭在生產(chǎn)車間及承裝在設(shè)備上的橡塑材料進(jìn)行測定其表面硬度。 
主要技術(shù)參數(shù): 
壓針行程:0-2.5mm 
硬度顯示范圍:0-100度 
試樣厚度:≥4mm(可兩層疊加) 

三種硬度計(jì)的適應(yīng)范圍: 
1、XHS-A:常規(guī)硬度計(jì),試驗(yàn)準(zhǔn)確區(qū)域值為20-85度  
2、XHS-D:高值硬度計(jì),試驗(yàn)準(zhǔn)確區(qū)域值為20-80度(當(dāng)A型硬度在85度以上,應(yīng)采用D型測量)  
3、XHS-W:低值硬度計(jì),試驗(yàn)準(zhǔn)確區(qū)域值為20-85度(當(dāng)A型硬度在35度以下,應(yīng)采用W型測量) 

 

 

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