記憶式照度計(jì)TD-2005LX 

自動(dòng)記錄16000筆數(shù)據(jù)，含時(shí)間紀(jì)錄（年月日時(shí)分秒）
手動(dòng)記錄數(shù)據(jù)，Z多250筆
0.1~100000LUX/0.1~10000FC
LUX（照度）/Ft-cd（呎/燭光）單位選擇切換
精確度: ±4%
感光器光譜反應(yīng)符合C.I.E.規(guī)范
內(nèi)建四種受光源系數(shù)補(bǔ)償
記憶式照度計(jì)TD-2005LX 值
可外接電源或使用電池

自動(dòng)記錄16000筆數(shù)據(jù)，含時(shí)間紀(jì)錄（年月日時(shí)分秒）
手動(dòng)記錄數(shù)據(jù)，Z多250筆
0.1~100000LUX/0.1~10000FC
LUX（照度）/Ft-cd（呎/燭光）單位選擇切換
精確度: ±4%
感光器光譜反應(yīng)符合C.I.E.規(guī)范
內(nèi)建四種受光源系數(shù)補(bǔ)償
  一般照度、鈉燈（sodium）、日光燈（ fluorescent light）及太陽(yáng)燈（sunlamp）  
讀值鎖定及記錄測(cè)量中之Z大/Z小值
可外接電源或使用電池

自動(dòng)記錄16000筆數(shù)據(jù)，含時(shí)間紀(jì)錄（年月日時(shí)分秒）
手動(dòng)記錄數(shù)據(jù)，Z多250筆
0.1~100000LUX/0.1~10000FC
LUX（照度）/Ft-cd（呎/燭光）單位選擇切換
精確度: ±4%
感光器光譜反應(yīng)符合C.I.E.規(guī)范
內(nèi)建四種受光源系數(shù)補(bǔ)償
  一般照度、鈉燈（sodium）、日光燈（ fluorescent light）及太陽(yáng)燈（sunlamp）  
讀值鎖定及記錄測(cè)量中之Z大/Z小值
可外接電源或使用電池

產(chǎn)品名稱(chēng)：手持式四探針測(cè)試儀 產(chǎn)品型號(hào)：M-3

手持式四探針測(cè)試儀型號(hào)：M-3

M-3型手持式四探針測(cè)試儀是運(yùn)用四探針測(cè)量原理測(cè)試電阻率/方阻的多用途綜合測(cè)量?jī)x器。該儀器設(shè)計(jì)符合單晶硅物理測(cè)試方法標(biāo)準(zhǔn)并參考美國(guó) A.S.T.M 標(biāo)準(zhǔn)。 
儀器成套組成：由M-3主機(jī)、選配的四探針探頭等二部分組成，也可加配測(cè)試臺(tái)。 
儀器所有參數(shù)設(shè)定、功能轉(zhuǎn)換全部采用輕觸按鍵輸入；具有零位、滿度自校功能；手動(dòng)/自動(dòng)轉(zhuǎn)換量程可選；測(cè)試結(jié)果由數(shù)字表頭直接顯示。本測(cè)試儀采用可充電電池供電，適合手持式變動(dòng)場(chǎng)合操作使用！ 
探頭選配：根據(jù)不同材料特性需要，探頭可有多款選配。有高耐磨碳化鎢探針探頭，以測(cè)試硅類(lèi)半導(dǎo)體、金屬、導(dǎo)電塑料類(lèi)等硬質(zhì)材料的電阻率/方阻；也有球形鍍金銅合金探針探頭，可測(cè)柔性材料導(dǎo)電薄膜、金屬涂層或薄膜、陶瓷或玻璃等基底上導(dǎo)電膜（ITO膜）或納米涂層等半導(dǎo)體材料的電阻率/方阻。換上四端子測(cè)試夾具，還可對(duì)電阻器體電阻、金屬導(dǎo)體的低、中值電阻以及開(kāi)關(guān)類(lèi)接觸電阻進(jìn)行測(cè)量。配探頭，也可測(cè)試電池片等箔上涂層電阻率方阻。  
詳見(jiàn)《四探針探頭特點(diǎn)與選型參考》點(diǎn)擊進(jìn)入 
儀器具有測(cè)量精度高、靈敏度高、穩(wěn)定性好、智能化程度高、結(jié)構(gòu)緊湊、使用簡(jiǎn)便等特點(diǎn)。  
儀器于半導(dǎo)體材料廠、器件廠、科研單位、高等院校對(duì)導(dǎo)體、半導(dǎo)體、類(lèi)半導(dǎo)體材料的手持式導(dǎo)電性能的測(cè)試。

4) 適配器工作電源：220V±10％, f=50Hz±4％,PW≤5W，或電池供電

5) 外形尺寸：W×H×L=10cm×3.6cm×21cm

凈   重：≤0.3kg

  
三、基本技術(shù)參數(shù) 
1. 測(cè)量范圍、分辨率

電    阻：     0.010Ω ～ 50.00kΩ,     分辨率0.001Ω ～ 10 Ω 
電 阻 率：     0.010Ω-cm～ 20.00kΩ-cm， 分辨率0.001Ω ～ 10 Ω-cm 
方塊電阻：     0.050Ω/□ ～ 100.00kΩ/□   分辨率0.001Ω ～ 10 Ω/□  
2. 可測(cè)材料尺寸 
手持方式不限材料尺寸，但加配測(cè)試臺(tái)則由選配測(cè)試臺(tái)決定如下： 
直    徑：SZT-A圓測(cè)試臺(tái)直接測(cè)試方式 Φ15～130mm。停產(chǎn) 
SZT-C方測(cè)試臺(tái)直接測(cè)試方式180mm×180mm。 
長(zhǎng)(高)度：測(cè)試臺(tái)直接測(cè)試方式 H≤100mm。. 
測(cè)量方位: 軸向、徑向均可. 
3. 量程劃分及誤差等級(jí)

產(chǎn)品名稱(chēng)：缺口制樣機(jī)  產(chǎn)品型號(hào)： QK20

  缺口制樣機(jī)  型號(hào)： QK20
  
 QK20缺口制樣機(jī),是用機(jī)械加工方法制備加工塑料、有機(jī)玻璃等非金屬材料的簡(jiǎn)支梁、懸臂梁沖擊試驗(yàn)用標(biāo)準(zhǔn)缺口樣條的設(shè)備，該機(jī)符合ISO179、ISO180、GB/T1043、GB/T1843、GB/T8814D的要求 

主要技術(shù)參數(shù)及規(guī)格： 
銑缺口刀具長(zhǎng)度:50 mm 
大銑切厚度:20mm